{"year":"2008","publication_status":"published","citation":{"alphadin":"<span style=\"font-variant:small-caps;\">Knobloch, Axel</span> ; <span style=\"font-variant:small-caps;\">Battermann, Sven</span>: Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25. In: <span style=\"font-variant:small-caps;\">Gonschorek, K.-H.</span> (Hrsg.): <i>EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit</i> : VDE Verlag GmbH, 2008, S. 277–284","short":"A. Knobloch, S. Battermann, in: K.-H. Gonschorek (Ed.), EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit, VDE Verlag GmbH, 2008, pp. 277–284.","apa":"Knobloch, A., &#38; Battermann, S. (2008). Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25. In K.-H. Gonschorek (Ed.), <i>EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit</i> (pp. 277–284). Düsseldorf: VDE Verlag GmbH.","chicago":"Knobloch, Axel, and Sven Battermann. “Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25.” In <i>EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit</i>, edited by Karl-Heinz Gonschorek, 277–84. VDE Verlag GmbH, 2008.","ieee":"A. Knobloch and S. Battermann, “Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25,” in <i>EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit</i>, Düsseldorf, 2008, pp. 277–284.","mla":"Knobloch, Axel, and Sven Battermann. “Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25.” <i>EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit</i>, edited by Karl-Heinz Gonschorek, VDE Verlag GmbH, 2008, pp. 277–84.","ama":"Knobloch A, Battermann S. Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25. In: Gonschorek K-H, ed. <i>EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit</i>. VDE Verlag GmbH; 2008:277-284.","bibtex":"@inproceedings{Knobloch_Battermann_2008, title={Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25}, booktitle={EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit}, publisher={VDE Verlag GmbH}, author={Knobloch, Axel and Battermann, Sven}, editor={Gonschorek, Karl-HeinzEditor}, year={2008}, pages={277–284} }"},"user_id":"219522","title":"Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemäß CISPR 25","publication":"EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit","date_created":"2023-02-06T22:30:33Z","status":"public","_id":"2348","author":[{"first_name":"Axel","last_name":"Knobloch","full_name":"Knobloch, Axel"},{"id":"219522","first_name":"Sven","orcid":"0000-0001-7203-7396","last_name":"Battermann","full_name":"Battermann, Sven"}],"extern":"1","publisher":"VDE Verlag GmbH","editor":[{"first_name":"Karl-Heinz","last_name":"Gonschorek","full_name":"Gonschorek, Karl-Heinz"}],"quality_controlled":"1","abstract":[{"lang":"ger","text":"Das emittierte Feld einer Komponente (EUT) kann in einer Absorberkammer gemessen werden. Zur Nachbildung einer gut leitfähigen Umgebung wird das EUT gemäß Anweisung der CISPR 25 auf einem Metalltisch positioniert und in definiertem Abstand die elektrische Feldstärke gemessen und bewertet. Dieser Beitrag untersucht Einflüsse von gemäß Norm zulässigen Größenvariationen der leitfähigen Tischplatte, unterschiedliche Ausführungen der Masseanbindung der Tischplatte an die Groundplane und Variationen der Kabelbaumenden auf das Ergebnis der Messung der elektrischen Feldstärke. In der dritten Version der CISPR 25 wird der zu messende Frequenzbereich bis auf 2500 MHz erweitert. Die Angabe von Strahlungsdiagrammen der untersuchten Anordnungen ermöglicht eine Betrachtung der Wahrscheinlichkeit der Messung des Maximums der Emission mit dem CISPR 25 Messverfahren. "}],"conference":{"location":"Düsseldorf","name":"EMV 2008 - Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit","end_date":"2008-02-21","start_date":"2008-02-19"},"publication_identifier":{"isbn":["978-3-8007-3075-9"]},"type":"conference","language":[{"iso":"ger"}],"page":"277-284","date_updated":"2023-02-12T10:05:42Z"}