Validierungsverfahren von EMV-Messplätzen im Frequenzbereich von 18 – 40 GHz
S. Battermann, M. Metzger, J. Riedelsheimer, F.-W. Trautnitz, in: H. Garbe (Ed.), Proceedings EMV Kongress 2022, Apprimus, Aachen, 2022.
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DOI
Konferenzbeitrag
| Veröffentlicht
| Deutsch
Autor*in
Battermann, Sven
;
Metzger, Markus;
Riedelsheimer, Jochen;
Trautnitz, Friedrich-Wilhelm
;
Metzger, Markus;
Riedelsheimer, Jochen;
Trautnitz, Friedrich-WilhelmHerausgeber*in
Garbe, H.
Erscheinungsjahr
Titel des Konferenzbandes
Proceedings EMV Kongress 2022
Konferenz
EMV 2022 - Messe und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit
Konferenzort
Köln
Konferenzdatum
2022-07-12 – 2022-07-14
FH-PUB-ID
Zitieren
Battermann, Sven ; Metzger, Markus ; Riedelsheimer, Jochen ; Trautnitz, Friedrich-Wilhelm: Validierungsverfahren von EMV-Messplätzen im Frequenzbereich von 18 – 40 GHz. In: Garbe, H. (Hrsg.): Proceedings EMV Kongress 2022. Aachen : Apprimus, 2022
Battermann S, Metzger M, Riedelsheimer J, Trautnitz F-W. Validierungsverfahren von EMV-Messplätzen im Frequenzbereich von 18 – 40 GHz. In: Garbe H, ed. Proceedings EMV Kongress 2022. Aachen: Apprimus; 2022. doi:10.15488/12578
Battermann, S., Metzger, M., Riedelsheimer, J., & Trautnitz, F.-W. (2022). Validierungsverfahren von EMV-Messplätzen im Frequenzbereich von 18 – 40 GHz. In H. Garbe (Ed.), Proceedings EMV Kongress 2022. Aachen: Apprimus. https://doi.org/10.15488/12578
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Battermann, Sven, Markus Metzger, Jochen Riedelsheimer, and Friedrich-Wilhelm Trautnitz. “Validierungsverfahren von EMV-Messplätzen im Frequenzbereich von 18 – 40 GHz.” In Proceedings EMV Kongress 2022, edited by H. Garbe. Aachen: Apprimus, 2022. https://doi.org/10.15488/12578.
S. Battermann, M. Metzger, J. Riedelsheimer, and F.-W. Trautnitz, “Validierungsverfahren von EMV-Messplätzen im Frequenzbereich von 18 – 40 GHz,” in Proceedings EMV Kongress 2022, Köln, 2022.
Battermann, Sven, et al. “Validierungsverfahren von EMV-Messplätzen im Frequenzbereich von 18 – 40 GHz.” Proceedings EMV Kongress 2022, edited by H. Garbe, Apprimus, 2022, doi:10.15488/12578.
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